热发射率仪测量一次的时间只需要7秒钟。随机配备镜面金质标样，并可提供NIST可溯源标定。
热发射率仪可在数秒钟内测量物体表面的热发射率。即使是特殊结构和曲面也可以直接测量，该设备自成一体，包含全部操作和电子元件，可测量和处理传感器信号和显示数据，以及控制黑体温度。大屏幕LED显示设备的状态，测量结果和操作菜单，触摸屏面板确保所有功能轻松实现。
热发射率仪的核心部件是半球形的黑体，由于发射器涂有黑色涂层，因此具备近乎理想黑体的所有属性。发射器的工作温度为100℃，黑体外壳的其余部分与发射器热绝缘。因此在仪器运行过程中仅产生轻微热量。仪器内部的逆向热熔丝防止发射器加热时产生过多热量，并可在125℃中断加热过程。
热电堆传感器将反射的热辐射转换为电压信号，超过97%的辐射能的波长在2.5μm和40μm范围之间。
热发射率仪的应用：
1.镀膜玻璃的质量控制
热保护绝缘玻璃的的低U-值取决于玻璃镀膜的低发射率，热发射率仪对镀膜的质量控制以及实验室中开发新镀膜非常有用。
2.金属箔片镀膜的质量控制
3.太阳能收集器镀膜的质量控制
的太阳能收集器的效率取决于收集器表面非产低的发射率，因此热发射率仪也是此行业质量控制的理想设备
4.卫星表面热涂层的质量控制
